當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 進(jìn)口標(biāo)準(zhǔn)粒子 > 晶圓表面用納米級(jí)別二氧化硅微粒子標(biāo)液
簡(jiǎn)要描述:晶圓表面用納米級(jí)別二氧化硅微粒子標(biāo)液:
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
Related Articles詳細(xì)介紹
晶圓表面用納米級(jí)別二氧化硅微粒子標(biāo)液
供應(yīng)商:上海瑞貝貿(mào)易有限公司
產(chǎn)品名稱:
SiO2微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液
納米級(jí)別二氧化硅
SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子
晶圓表面用二氧化硅
NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液,微粒子尺寸從18nm到200nm都選擇,是市面上理想、質(zhì)量較高的校正標(biāo)準(zhǔn),適用于新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。
*進(jìn)的半導(dǎo)體檢查技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到小于30nm,以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正,但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷,當(dāng)UV光重復(fù)打在PSL球形化粒子上,將影響到PSL球形化粒子的質(zhì)量; 由于SiO2微粒子在DUV及EUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)的質(zhì)量,因此SiO2微粒子是較好的替代產(chǎn)品。
NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是使用有 的SiO2合成技術(shù),以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布,從目前小的微粒子尺寸來看,NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是尺寸均勻,適合做尺寸大小峰值的量測(cè)的工具。
NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是MSP Corporation透過National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標(biāo)準(zhǔn)單位的產(chǎn)品,加上ISO 9000與SEMI的認(rèn)證,讓良率提升及表面檢查和缺陷評(píng)估有所依據(jù)。
NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液使用15-mL滴,讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標(biāo)皆標(biāo)示產(chǎn)品編號(hào)、生產(chǎn)編號(hào)、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限,而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說明書。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
•尺寸大小分布均勻
•NIST traceability 的尺寸大小
•DUV及EUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)的質(zhì)量
•高濃縮度微粒子懸浮溶液
產(chǎn)品效益
•易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測(cè)與量測(cè)尺寸峰值
•避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
•適合氣膠產(chǎn)生設(shè)備使用
•提供耐久校正標(biāo)準(zhǔn)給先*進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備使用
•省錢而且耗用量少
產(chǎn)品咨詢
傳真:
郵箱:13916617155@139.com
地址:上海市浦東滬南路2218號(hào)東樓1812房間